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闩锁效应是什么?锁存效应是CMOS工艺中的寄生效应,它会导致电路故障甚至芯片烧毁。锁存效应是由NMOS有源区、p衬底、n阱和PMOS有源区组成的n-p-n-p结构产生的...
2021-03-13 05:11:18 闩锁效应产生的原因 什么是闩锁效应 闩锁效应