抗爆墙设计

抗闩锁设计 抗爆墙设计

闩锁效应是什么？锁存效应是CMOS工艺中的寄生效应，它会导致电路故障甚至芯片烧毁。锁存效应是由NMOS有源区、p衬底、n阱和PMOS有源区组成的n-p-n-p结构产生的...

2021-03-12 07:10:11 抗爆墙设计 设计 闩锁是什么