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激光三角测量原理 cmos激光形貌测量原理?

浏览量:1964 时间:2023-04-07 09:40:47 作者:采采

cmos激光形貌测量原理?

一般采用激光三角法,ZLDS10x和ZLDS11x系列激光位移传感器都是采用这种原理,有一个激光发射器和一个接收器,可以测量绝大多数自然表面物体。

光学三角测量法:半导体激光①通过透镜②聚焦在被测物体⑥上。反射光被透镜③收集,投射到CMOS阵列④上;信号处理器⑤通过三角函数计算光斑在阵列⑤上的位置,得到与物体的距离。长距离激光测距一般采用光的飞行时间或相位法。例如,对于短距离,ZLDS100位移传感器通过激光三角测量原理进行测量。ZLDX10X系列激光位移传感器采用激光三角测量原理进行测量。NLS1x系列是全反射原理。

如LDM42激光位移传感器采用激光相位法测量物体之间的距离(无反射镜),其响应速度高达50HZ,测量精度最高可达3 mm,该传感器已广泛应用于集装箱定位、大型工件装配定位、江河湖海水位测量等。同时,该传感器特别适用于水电闸门的高度测量。

光谱传感器有什么用?

利用光谱共焦测量技术,可以获得超高的分辨率。纳米分辨率来源于通过上述特殊处理获得的扩展的光谱范围。因为检测焦点的颜色并获得距离信息,所以光谱共焦传感器可以使用非常小的测量点,从而允许测量非常小的被测物体。这也意味着即使被测表面有非常轻微的划痕,它也能 不能逃过光谱共焦传感器的眼睛。

由于光谱共焦传感器的光路非常紧凑和集中,非常适合于测量井眼结构。而其他测量方法,如激光三角反射测量,对于小孔往往为力,因为小孔形成的阴影会挡住反射光的光路,无法测量。针对这种小孔测量任务,德国Miiridium公司推出了IFS 2402显微光谱共焦传感探头。这种探头的探头直径只有4mm,可以探入小孔内部进行测量。

非常适合光谱共焦传感器的另一个应用是测量多层透明材料的厚度。与其他测量方法不同,光谱共焦传感器只需要一个探头就可以测量这类物体。测量被测物体前端和后端的反射光,从而获得层厚信息。因为测量仅使用白光,所以不需要额外的激光安全措施。由于探头本身不含任何电路,所以传感器探头也可以用在有防爆要求或有电磁干扰要求的环境中。

环境。并且控制器可以放置在安全距离处。允许最大长度为50m的光纤连接探头和控制器。但需要禁止光路中存在障碍物或小颗粒,这些会影响测量精度,甚至使测量无法进行。由于采用光学测量方法,探头与被测物体之间的距离也受到限制。

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